產(chǎn)品介紹

高低頻電容率介質(zhì)損耗測試儀

GCSTD-DII

一、滿(mǎn)足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數的測試方法

二、高低頻電容率介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)要求：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

電極類(lèi)型：固定電極-測量電極φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環(huán)境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻率可以?huà)呙柽M(jìn)行測試

*2、測試頻率可以單點(diǎn)測試

*3、測試頻率可以多頻設置測試

4、測試速度模式：快速、中速、慢速

5、測試數據與曲線(xiàn)顯示：

*6、電阻率—測試頻率

*7、絕對介電常數--測試頻率

*8、相對介電常數--測試頻率

*9、相對介電常數虛部--測試頻率

*10、相對介電常數實(shí)部--測試頻率

*11、介質(zhì)損耗--測試頻率

*12、電容值--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進(jìn)

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負載校準

等效方式 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式 自動(dòng), 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 內部, 手動(dòng), 外部, 總線(xiàn)

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）